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EDX-T能量色散X熒光光譜儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析。
更新時(shí)間:2024-07-04
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EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動(dòng)微區(qū)膜厚測(cè)試儀)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析,滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。通過自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng),雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)。
更新時(shí)間:2024-07-04
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EDX600PLUS能量色散X熒光光譜儀是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測(cè)量技術(shù)經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。測(cè)量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。
更新時(shí)間:2024-07-04
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x射線鍍層測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能*的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
更新時(shí)間:2024-08-06
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XRF鍍層測(cè)厚儀快速:一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1~3分鐘,樣 品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理。利用電解原理在某些金屬表面鍍上一薄層其它金屬或合金的過程,是利用電解作用使金屬或其它材料制件的表面附著一層金屬膜的工藝,從而起到防止腐蝕、提高耐磨性、導(dǎo)電性、反光性及增進(jìn)美觀等作用。電鍍分為掛鍍、滾鍍、連續(xù)鍍和刷鍍等方式,主要與待鍍件的尺寸和批量有關(guān)。
更新時(shí)間:2026-06-12
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