測(cè)試速度快的能譜儀器行業(yè)的極速探測(cè)器技術(shù)（SDD）可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX 9000還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開(kāi)發(fā)的樣品腔使操作更加方便，新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓檢測(cè)得到。 

測(cè)試速度快的能譜儀參數(shù)規(guī)格  

1.元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；

2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；

3.測(cè)量時(shí)間：1秒或以上； 

4.分析檢測(cè)限度高達(dá)2PPM,薄可測(cè)試0.005um；

5.多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05％（總熒光強(qiáng)度）；

6.工作穩(wěn)定性為0.05％；（總熒光強(qiáng)度）。

儀器硬件配置                                       

1. 極速探測(cè)器

2. X 光管

3. 高、低壓電源                             

4. 高精密攝像頭

5. 數(shù)字多道分析器

6. 超大樣品腔

7. 準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

8. 濾光片自動(dòng)切換

9. 準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合

10. 標(biāo)準(zhǔn)樣品

儀器特點(diǎn)

1.     快—1秒鐘出結(jié)果； 

2.     采用行業(yè)的極速探測(cè)器技術(shù)——（SDD）分辨率低至125eV；

優(yōu)勢(shì)：探測(cè)面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測(cè)效率更高，探測(cè)信噪比更強(qiáng)，檢出限更低；

3.     采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)；

優(yōu)勢(shì)：提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，采集計(jì)數(shù)率高可達(dá)600KCPS；

4.     采用大功率X光管及的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)；

優(yōu)勢(shì)：激發(fā)效率更高；

5.光閘系統(tǒng)；

優(yōu)勢(shì)：樣品更換無(wú)需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度；

6.  精密的定位系統(tǒng)； 

超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)；

7.     多點(diǎn)測(cè)試；

2D自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試；

超小樣品檢測(cè)——小可測(cè)到0.2毫米。