平面樣品鍍層厚度檢測儀采用下照式結(jié)構(gòu)，儀器操作簡單，測試，售后服務(wù)及時。
平面樣品鍍層厚度檢測儀性能特點
EDX1800B采用下照式：適合平面樣品的鍍層測試需求；準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換，滿足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測；移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點；高分辨率探測器：提高分析的性；新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率。
應(yīng)用領(lǐng)域
鐵基----□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基----□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基----□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金----□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基體----plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
技術(shù)參數(shù)
1 分析元素范圍：S-U
2 同時可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限高達0.01μm
4 多次測量重復(fù)性高可達0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 測量時間：30s-300s
6 計數(shù)率：1300-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.01—30um，在這個范圍內(nèi)，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。
儀器硬件配置
1. X 光管
2. 高、低壓電源
3. MCA多道分析器:
4. 高精密攝像頭
5. 移動平臺（自動）
6. 超大樣品腔
7. 準(zhǔn)直器自動切換
8. 濾光片自動切換
9. 準(zhǔn)直器和濾光片的自由組合
10. 標(biāo)準(zhǔn)樣品
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產(chǎn)品簡介
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