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上照式X熒光無損測厚儀是天瑞儀器銷量好的鍍層測厚儀；儀器采用上照式結(jié)構(gòu)，測試，軟件界面簡潔，測試樣品用時40S，售后服務(wù)及時。

熒光法檢測金屬電鍍層基本被外廠家（德費希爾，日本精工，牛津等）壟斷，用戶可以選擇的廠家比較少。

鍍鎳厚度檢測儀可同時分析，較多24個元素，單層、雙層、較高5層鍍層及合金鍍層檢測，且每層鍍層都可分開顯示各自鍍層厚度。

X光電鍍層檢測儀采用下照式結(jié)構(gòu)，儀器操作簡單，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求。

平面樣品鍍層厚度檢測儀適合平面樣品的鍍層測試需求；準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動切換，滿足不同樣品材質(zhì)和形狀的檢測；移動平臺：精細(xì)的手動移動平臺，方便定位測試點；高分辨率探測器：提高分析的性；新代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定，高達(dá)100W的功率實現(xiàn)更高的測試效率。

電鍍層厚度分析儀采用上照式機構(gòu)，能夠適應(yīng)各種不規(guī)則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺，可實現(xiàn)X/Y/Z軸的自動定位，操作性能好。